CIED患者の無症候性AFと脳卒中リスク：メタアナリシス

Subclinical device-detected atrial fibrillation and stroke risk: a systematic review and meta-analysis

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背景

心臓植込み型電子デバイス（CIED）使用患者での無症候性AF（asAF）・脳卒中に関する研究が集積されてきた。オーストラリアUniversity of AdelaideのSandersらは、関連11論文の系統レビュー・メタアナリシスを発表している。

結論

CIED植え込み患者の35%で1〜2.5年以内にasAFが発生していた。asAFは症候化と強く関連した（OR:5.7）。カットオフ期間の定義は研究間で異なったが、一般的にはasAFがカットオフ期間以上続いた患者の年間脳卒中率は、続かなかった患者の2.4倍であった。平均CHADS2スコアは2.1で、asAFは2.76/100人年の年間脳卒中率と関連していた。AF保持者の17%に脳卒中が生じ、卒中前30日以内に29%の患者でasAFが認められた。

評価

この問題に関する初めての本格的メタアナリシスで、CIED植え込み後の最重要の留意点の一つであることを確認した。