CIED患者で、SSEリスクへのAF持続時間とCHA2DS2-VAScスコアの相互作用を検出

Stroke Risk as a Function of Atrial Fibrillation Duration and CHA2DS2-VASc Score

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背景

埋め込み型心デバイス（CIED）使用患者では、AFの持続時間が記録される。Northwestern UniversityのKaplanらは、Optum(R) EHRの粗データ（2007〜2017年）とCIEDのMedtronic CareLinkデータに基づき、同患者における脳卒中・全身塞栓症（SSE）発生リスクに対するCHA2DS2-VAScスコアとAF持続時間の相互作用を検討した（n=21,768）。

結論

AF持続時間の長さとCHA2DS2-VASc高スコアは、ともにSSE高リスクと関連した（ともにp<0.001）。CHA2DS2-VASc 0-1の患者では、デバイス検知AF持続期間によらずSSE発生率は低かった。しかし、脳卒中リスクは、AF時間>23.5時間のCHA2DS2-VASc 2患者、AF時間>6分のCHA2DS2-VASc 3-4患者、および無AFのCHA2DS2-VASc≧5患者で、要介入閾値（>1%/年）を超えていた。

評価

このテーマに関する最大規模の研究で、AF負荷とCHA2DS2-VAScスコアとの間の相互作用を 確認した。Apple Watchデータなどを利用すれば、CIED患者以外でも確認できる可能性がある。