LAACでのデバイス周リーク「5mm以下（PDL≦5）なら問題ない」は間違い

Impact of Peridevice Leak on 5-Year Outcomes After Left Atrial Appendage Closure

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背景

経皮左心耳閉鎖術（LAAC）でのデバイス周リーク（PDL）は、「5mm以下（PDL≦5）なら問題ない」とみなされてきたが、エビデンスは不十分である。
Icahn School of Medicine at Mount SinaiのReddyらは、PROTECT-AF・PREVAIL両試験のデータを解析した（n=1,054)。一次アウトカムは、5年後での死亡・脳卒中・血栓塞栓症である。

結論

1年後でのPDL≦5存在率は27.7%で、その存在は虚血性脳卒中または全身性塞栓症の5年リスク増と関連した（aHR：1.94）。これは主に無障害脳卒中（HR：1.97）の増加によってもたらされた。PDL≦5は、心血管死・原因不明死・全死亡のリスク増とは関連がなかった。

評価

 「小規模リークは許容範囲」という楽観を否定するエビデンスで、デバイスの進化を呼びかける結果である。