セミコン・ジャパン2013

セミコン・ジャパン2013において「Solutions for Innovation」をテーマとし、分析装置ラインナップの総合力を合わせた展示を行います。新製品を中心に「創る」「観る」「ソリューション」のカテゴリー分けレイアウトで、来場者の方が知りたいというご要望にダイレクトにお答えしてまいります。
ご多忙中誠に恐縮とは存じますが、この機会に是非ともご来場頂きます様ご案内申しあげます。　

開催日/会場

日程:2013年12月4日（水） - 12月6日(金)　10:00〜17:00
会場:幕張メッセ ホール5
ブースNo.:5B‐406

交通アクセス:
http://www.semiconjapan.org/ja/hotel-travel

実機出展装置

走査電子顕微鏡 JSM-IT300LV
卓上走査電子顕微鏡NeoScope™ JCM-6000

その他の出展装置

<新製品>
ガスクロマトグラフ質量分析計 JMS-Q1500GC
エネルギー分散形蛍光X線分析装置 ElementEye

<創る>
電子ビーム描画装置 JBX-3200MV
電子ビーム描画装置 JBX-6300FS
電子ビーム描画装置 JBX-9500FS
高周波誘導熱プラズマ装置

<観る>
原子分解能分析電子顕微鏡 JEM-ARM200F
ハイスループット電子顕微鏡 JEM-2800
ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-7800F
複合ビーム加工観察装置 JIB-4601F
光学顕微鏡/走査電子顕微鏡リンクシステム miXcroscopy
断面資料作製装置 IB-09020CP（冷却CP）
薄膜試料作製装置 ION SLICER EM-09100IS

<ソリューション>
磁場キャンセラー

【お問い合わせ先】
日本電子株式会社
電子光学機器営業本部
担当者: 高橋　清人
TEL: 042-528-3353
FAX: 042-528-3386

企業サイトURL

http://www.jeol.co.jp

ニュース・プレスリリース

http://www.jeol.co.jp/news/detail/20131113.632.html