集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)に「CRYO-FIB-SEM」を掲載しました
- 日本電子株式会社
- 2024年1月19日
※このニュース・プレスリリースには本文がありません。詳しくは、下記企業サイトURLをご覧下さい。
- 企業サイトURL
- https://www.jeol.co.jp/
最新ニュース・プレスリリース
- 【日本電子株式会社】第74回日本医学検査学会 (2025-04-23)
- 【日本電子株式会社】透過電子顕微鏡 (TEM)に「JEM-Z200MF 無磁場電子顕微鏡」を掲載しました (2024-10-28)
- 【日本電子株式会社】新型ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-IT810を販売開始〜自動化技術の活用で装置調整、観察、分析まで業務効率向上〜 (2024-07-28)
- 【日本電子株式会社】電子ビーム描画装置 (可変/スポット)に「JBX-A9 シリーズ 電子ビーム描画装置」を掲載しました (2024-06-12)
- 【日本電子株式会社】集束イオンビーム加工観察装置 (FIB)に「CRYO-FIB-SEM」を掲載しました (2024-01-19)